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温控型折射率测量仪

温控型折射率测量仪适用于红外波段的折射率测量，具备温控功能

温控型折射率测量仪适用于红外波段的折射率测量，具备温控功能，基于最小偏角法，通过照射任意波长（1~14µm）的单色光到棱镜形状的样品上，测量透射光相对入射光的角度来确定样品的折射率。

这种仪器能够提供更高的折射率精度（0.0001）。适用于评估用于红外波段的材料，如Ge、Si、ZnSe、KRS-5、硫化物玻璃和红外光学薄膜。

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高性价比

高灵活性

高精度高效率

可测项目

包含：顶角测量、最小偏角测量、最小偏角计算、折射率计算等

顶角测量

最小偏角测量

最小偏角计算

折射率计算

波长分散测量

温度分散测量

产品特征

温控型折射率测量仪具备四项核心功能

*在波长范围1～14µm内，可实现高精度折射率（0.0001）测量。

*非常适合红外窗口、红外透镜和硫系玻璃的折射率测量。

*同时支持评估因样品温度变化引起的折射率变化（dn/dT）。

*具备控温功能。

产品技术指标

温控型折射率测量仪详细参数

测量目标	棱镜
测定项目	顶角、最小偏角、波长分散^＊1、温度分散^＊2
测定方式	垂直角测量：自准直法最小偏角测定：最小偏角法
测量波长范围	0.4～14μm ^＊3
测量折射率范围	1～4
测定精度（再现性）	±0.0001以内^*4
照射光尺寸	Φ15mm/Φ8mm（根据光圈孔径从1到20mm变化）
控温范围	-40～80℃ ^＊5
控温精度	±0.1℃
算术函数	顶角计算、最小偏角计算、折射率计算、各种色散公式的系数计算
保存形式	文本格式

＊1 波长色散测量是测量每个波长的折射率的模式。波长色散方程的系数是通过“材料数据计算”模式使用测量数据计算得出的。
＊2 温度色散测量是测量各温度下折射率的模式。温度色散方程的系数是通过“材料数据计算”模式使用测量数据计算得出的。在使用恒温罩时，可能会出现误差。
＊3 这是硬件和软件操作的可用范围。实际可测量的波长范围取决于最终检测器的信号强度。
＊4 透射率和表面精度等与样品相关的因素也是误差源，因此无法保证所有样品都能达到所需精度。
＊5 这是温度调节阶段的设置范围。使用Pt100传感器测量样品的温度。（温度色散方程的系数将使用这些实际测量值进行计算。）

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